面向挑戰(zhàn)性應(yīng)用的高級數(shù)碼顯微鏡攝像頭

使用功能強(qiáng)大的DP75數(shù)碼顯微鏡攝像頭，讓您的顯微鏡檢查更加高效。這款高性能工具專為各種應(yīng)用定制，可讓您捕捉高分辨率明場、暗場、混合(明場和暗場)、偏振、DIC、熒光和近紅外(NIR)觀察*圖像。

_{*需要用于近紅外觀察的顯微鏡系統(tǒng)}

具有挑戰(zhàn)性的檢測應(yīng)用的成像

更清晰和精que

DP75數(shù)字顯微鏡攝像頭可提供清晰、低噪音的檢測圖像。

改進(jìn)的多軸色彩校正技術(shù)可提供出色的色彩保真度，實(shí)現(xiàn)逼真的再現(xiàn)，以及印刷材料、LCD濾色片和其他應(yīng)用所需的RGB色彩再現(xiàn)性。

                                    打印紙的圖像

高分辨率下的快速幀速率

憑借超過4k分辨率下22 fps的快速幀速率和全高清分辨率下60 fps的快速幀速率，您可以在快速移動的同時(shí)檢查實(shí)時(shí)圖像，從而加快您的檢測和分析工作流程。

                                      晶片的圖像

低放大率下的高分辨率圖像

攝像機(jī)的像素移動功能使得即使在低放大倍數(shù)下也能捕捉高分辨率圖像，最da分辨率為8192 × 6000，使您能夠在檢測報(bào)告中添加更多視覺細(xì)節(jié)。

無像素偏移(左)和有像素偏移(右)

由于DP75相機(jī)使用USB 3.1 Gen2，它與大多數(shù)PC兼容，可以很容易地作為當(dāng)前系統(tǒng)的升級來購買。

快速找到缺陷

樣品的外觀會因材料質(zhì)量、表面條件或照明方法而異。為了準(zhǔn)確顯示樣品，相機(jī)的實(shí)時(shí)高動態(tài)范圍(HDR)結(jié)合了在不同曝光下拍攝的幾幅圖像，以校正樣品表面的亮度差異。實(shí)時(shí)HDR提供了高保真圖像，不僅顯示了紋理，還顯示了以前無法檢測到的瑕疵和缺陷。眩光也減少了更舒適的觀察。

                                            通過HDR去除光暈                                                                              通過HDR的紋理增強(qiáng)

                                 (示例:印刷電路板(PCB))                                                                       (示例:印刷電路板(PCB))

DP75攝像機(jī)在使用0.63倍攝像機(jī)適配器(紅色框架)時(shí)的視野，與DP74(舊款)攝像機(jī)在使用0.63倍攝像機(jī)適配器(藍(lán)色框架)時(shí)的視野相比較。

在一個(gè)圖像中查看更多內(nèi)容

攝像機(jī)的寬視野(FN 26.5)使您能夠快速觀察大面積區(qū)域，使您的檢查更快、更有效。

使用相同的顯微鏡攝像頭輕松實(shí)現(xiàn)熒光到紅外成像

DP75相機(jī)設(shè)計(jì)用于各種應(yīng)用，集成了許多優(yōu)點(diǎn)，包括高靈敏度冷卻CMOS傳感器和可切換紅外(IR)截止濾光片。好處包括:

*覆蓋廣泛的波長范圍:DP75支持從可見光到1000納米的波長，使您能夠捕捉質(zhì)量的明場、暗場、混合(明場+暗場)、偏振、DIC、熒光和NIR*觀察圖像。

*噪聲極低的清晰熒光圖像:即使熒光很弱，也能捕捉到高質(zhì)量的圖像，這對檢測抗蝕劑殘留物等應(yīng)用很有幫助。

*需要顯微鏡系統(tǒng)進(jìn)行近紅外觀察

半導(dǎo)體晶片上光刻膠殘余物的混合(熒光+暗場)觀察圖像

一部分礦物的偏振觀察圖像

柔性板的明視場觀察圖像。

柔性板的近紅外觀察圖像。