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- 公司名稱 全光科技(北京)有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/6/3 15:25:47
- 訪問次數(shù) 178
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F3是我們、的光譜反射儀,搭配厚度與折射率的軟件模組可以用來測量薄膜的特性,具備了這些軟件模組的F3,不但包含我們的F20的所有能力,而且還具備了即時波長校準(zhǔn)與壽命高達(dá)4萬小時的光源,這意味著減少了客戶長期維護的成本
F3是我們、的光譜反射儀,搭配厚度與折射率的軟件模組可以用來測量薄膜的特性,具備了這些軟件模組的F3,不但包含我們的F20的所有能力,而且還具備了即時波長校準(zhǔn)與壽命高達(dá)4萬小時的光源,這意味著減少了客戶長期維護的成本。
F3不到一秒鐘即可測量厚度與折射率,如同我們所有的厚度測量儀,通過USB端口安裝到Windows系統(tǒng)電腦平臺上,幾分鐘內(nèi)即可完成設(shè)定,而且F3系統(tǒng)僅需USB連接而不需另外供電。F3系列膜厚儀的選擇同樣取決于薄膜厚度范圍的測量。
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