XK-XPL-3230透反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進行研究鑒定的儀器,可供廣大用戶進行單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、化工、醫(yī)療、藥品等領(lǐng)域的研究與檢驗，也可進行液態(tài)高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相、粒徑觀察，是科研機構(gòu)與高等院校進行研究與教學(xué)的理想儀器。
性能特點
▲ 采用無限遠光學(xué)系統(tǒng)及模塊化功能設(shè)計。
▲ 配置無窮遠無應(yīng)力長工作距離平場物鏡。
▲ 廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm。
▲ 粗微動同軸調(diào)焦機構(gòu)，粗動松緊可調(diào)，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。
▲ 偏光觀察裝置可移入或移出光路，起偏器與檢偏器均可360°旋轉(zhuǎn)。
▲ 旋轉(zhuǎn)式載物臺，360°等分刻度,游標(biāo)格值6'，中心可調(diào)，帶鎖緊裝置，工作臺垂直有效行程可達 30mm。
▲ 寬電壓電源(85-265V 50/60Hz). 6V30W鹵素?zé)粽彰?，亮度可調(diào)。
▲ 三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可99%通光，適合低照度顯微圖像拍攝。
