柵線投影測量技術(shù)可以測量物體的表面三維形貌，通過測量不同狀態(tài)下形貌的變化就可以測量物體自三維變形

柵線投影測量技術(shù)可以測量物體的表面三維形貌，通過測量不同狀態(tài)下形貌的變化就可以測量物體自三維變形。柵線投影測量具有很大的量程范圍，因此該方法特別適用于大變形測量。同時(shí)該儀器采用了正弦柵線和相移技術(shù)進(jìn)行柵線變化的位相分析使得測量分辨率可以達(dá)到X、Y方向尺寸的五萬分一。

　　主要技術(shù)指標(biāo)：

　　1、 正弦柵線密度：任意可調(diào)

　　2、 攝像頭分辨率：1280×1024

　　3、 成像鏡頭：f25mm

　　4、 三維形貌測量范圍：X、Y(300mm×300mm)，Z(100mm)

　　5、 測量分辨率(X、Y尺寸的)：1/1000(X、Y方向)，1/200(Z方向)

　　6、 測量距離(f25鏡頭)：300mm～1200mm。

　　7、 適用于物理光柵和投影機(jī)產(chǎn)生的光柵圖案。

　　8、靈活的相移算法，只要有三幅或三幅以上的相移圖都可以處理。

　　9、可以處理恒定但未知相移角的相移圖。