XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器

XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比，以確定被檢測的試樣缺口是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡便，對比直觀。

本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再以物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。 根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上，再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰地投射到投影屏上，物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位一致。將被測試樣放在工作臺上，旋轉(zhuǎn)工作臺升降手輪，調(diào)焦至影像清晰，再調(diào)整圓工作臺和縱橫向調(diào)節(jié)手輪，使已放大了50倍的試樣V型（或U型）缺口投影圖與本儀器所提供的也放大了50倍的沖擊試樣缺口標(biāo)準(zhǔn)尺寸圖對比，即判斷出沖擊試樣V型（或U型）缺口的幾何尺寸、加工質(zhì)量。