產(chǎn)品描述高溫SEM原位納米壓痕儀——InSEM®HT高溫測(cè)試系統(tǒng)可在真空環(huán)境中對(duì)壓頭和樣品分別獨(dú)立進(jìn)行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨(dú)立真空工作室兼容

產(chǎn)品描述

高溫SEM原位納米壓痕儀——InSEM^®HT高溫測(cè)試系統(tǒng)可在真空環(huán)境中對(duì)壓頭和樣品分別獨(dú)立進(jìn)行加熱，并與許多SEM/FIB工作室或獨(dú)立真空工作室兼容。系統(tǒng)溫度可高達(dá)800°C，因而可以模擬現(xiàn)場(chǎng)溫度條件，以獲得可靠一致的測(cè)試數(shù)據(jù)。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經(jīng)過優(yōu)化，可用于高溫測(cè)試應(yīng)用，并可提供多種幾何形狀。

主要功能

·        InForce 50驅(qū)動(dòng)器，壓頭可加熱，用于電容位移測(cè)量，并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭

·        樣品可升溫至800^°C，采用10mm樣品尺寸和真空兼容的樣品安裝系統(tǒng)

·        InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)

·        用于樣本定位的XYZ移動(dòng)系統(tǒng)

·        SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步

·        的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)

·        與Windows^®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開發(fā)功能

主要應(yīng)用

·        高溫測(cè)試

·        硬度和模量測(cè)量（Oliver-Pharr）

·        連續(xù)剛度測(cè)量

·        高速材料性質(zhì)分布

·        蠕變測(cè)量

·        應(yīng)變率靈敏度

工業(yè)應(yīng)用

·        大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

·        航空航天

·        汽車制造業(yè)

·        硬涂層

·        核能

·        軍事/國防