布魯克的Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter 是能夠直接在透射電子顯微鏡 （TEM） 內(nèi)觀察的深度感應(yīng)納米壓痕設(shè)備。有了這種測試儀器，不僅能夠?qū){米級材料的力學(xué)響應(yīng)進(jìn)行成像，還可以同時(shí)獲取載荷-位移數(shù)據(jù)。此外，集成視頻接口允許在載荷-位移曲線和對應(yīng)的 TEM 視頻之間進(jìn)行同步。
一、亮點(diǎn)
1）全面------深度感應(yīng)納米壓痕
實(shí)現(xiàn)TEM內(nèi)納米力學(xué)測試的直接觀測；
2）高性能------高級控制模塊
提供高達(dá) 78 kHz 反饋速率和38 kHz 的數(shù)據(jù)采集速率，以捕獲瞬態(tài)事件（如錯(cuò)位突變等）。
3）精確------三級定位系統(tǒng)
包括三軸定位器、3D 壓電調(diào)整器和用于靜電驅(qū)動和電容位感應(yīng)的高級傳感器。
二、特點(diǎn)
1）針對您的 TEM 的定制解決方案
Hysitron PI 95 經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，可與 JEOL、FEI、日立和蔡司顯微鏡兼容。有了這種儀器，不僅能夠?qū){米尺度材料的力學(xué)反應(yīng)進(jìn)行成像，而且可以同時(shí)獲取定量機(jī)械數(shù)據(jù)。集成的視頻接口允許載荷-位移曲線和相應(yīng)的 TEM 視頻同步。
2）針對納米級研究進(jìn)行了優(yōu)化
Hysitron PI 95 特別適用于納米尺度現(xiàn)象的研究。在 TEM 中執(zhí)行這些類型的研究可以明確區(qū)分力或位移瞬變的許多可能原因，這些原因可能包括錯(cuò)位爆發(fā)、相變、剝落、剪切帶或斷裂產(chǎn)生。
3）的性能
Hysitron PI 95 采用三級控制進(jìn)行定位和力學(xué)測試。除了三軸粗定位器和用于精細(xì)定位的三維壓電調(diào)整器外，該儀器還配備了用于靜電驅(qū)動的傳感器和用于獲取定量納米級力學(xué)測試數(shù)據(jù)的電容位移傳感器。
三、提供泛的創(chuàng)新表征技術(shù)------選項(xiàng)和附件
1） 樣品安裝------納米級材料的多種設(shè)計(jì)；
2）SEM 和 TEM 加熱臺------直接測量和觀察熱啟動材料轉(zhuǎn)化；
3） 原位納米劃痕模塊------同時(shí)具有正壓力和橫向力的高分辨率測量功能；
4）納米動態(tài)力學(xué)------施加振蕩力,持續(xù)測量粘彈性和疲勞特性,獲得其作為接觸深度、頻率和時(shí)間的函數(shù)；
5）電學(xué)特性模塊(ECM)------在納米壓痕、壓縮或拉伸加載期間同時(shí)進(jìn)行原位電特性測量；
6）壓轉(zhuǎn)拉模塊(PTP)------專為納米線和獨(dú)立薄膜而設(shè)計(jì)。
四、相關(guān)圖片
1）Hysitron PI 95 經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，可與 JEOL、FEI、日立和蔡司顯微鏡兼容
2）壓縮前和壓縮后鎳納米柱的暗場 TEM 圖像。最初在柱子中觀察到的高錯(cuò)位密度在壓縮時(shí)已經(jīng)消失。（來源：Nature Materials 7， 115-119 （2007）.）
3）示例 1 μN(yùn) 劃痕測試：（1） 正向和橫向載荷，正向位移隨時(shí)間變化；（2-5） 原位 TEM 視頻中的相應(yīng)幀，顯示 DLC 薄膜在顆粒頂部的變形
4）壓縮VLS法生長的n型摻雜的硅納米柱時(shí)的電學(xué)表征。 D.D. Stauffer 博士論文，“納米級脆性材料的變形機(jī)理”，明尼蘇達(dá)大學(xué)（2011），第 150-152 頁
