JEM-3100F 場發(fā)射透射電子顯微鏡是這一級別電鏡中的一款,分辨率可達0.17nm.如此高的分辨率在納米材料研究領(lǐng)域效果突出.控制系統(tǒng)使用藝術(shù)級的數(shù)字技術(shù), 充分強化了操作的簡易性。

JEM-3100F 透射電子顯微鏡

JEM-3100F 場發(fā)射透射電子顯微鏡是這一級別電鏡中的一款,分辨率可達0.17nm.如此高的分辨率在納米材料研究領(lǐng)域效果突出.控制系統(tǒng)使用藝術(shù)級的數(shù)字技術(shù), 充分強化了操作的簡易性。

擁有300KV加速電壓,JEM-3100F不僅很適合過程測試,還具有高速檢查經(jīng)聚焦離子束處理過的比較厚的半導體器件截面的能力。

JEM-3100F是可廣泛用于從研究開發(fā)到制造的*的工具;包括生物,基本材料研究和開發(fā), 實效分析和質(zhì)量控制等。

JEM-3100F 場發(fā)射透射電子顯微鏡特點

· 分辨率達到0.17nm,是這一級別電鏡中的。

· 理想的分析用高亮度,高穩(wěn)定性的肖特基電子槍。

· 的5軸馬達驅(qū)動測角器加強樣品臺精確度。

· 操作簡易的全數(shù)字化控制。

· 加載JEOL生產(chǎn)的掃描透射（STEM）系統(tǒng)和能譜儀（EDS）可升級為支持微區(qū)元素分析。