1)GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;
2)GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
3)GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
4)GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
5)GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗;
6)GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗;
7)GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。
試品架2套、直徑50MM測試孔軟塞一套、操作說明書保養(yǎng)手冊、本設(shè)備出廠前經(jīng)本公司質(zhì)量檢驗中心檢測,并出具有效期為一年的檢驗報告。