檢驗產(chǎn)品品質

測量

Jade Plus可以地檢測您的產(chǎn)品品質。作為標準配置的測量功能可將X射線圖像轉換為定量數(shù)據(jù)，利用這些數(shù)據(jù),您可以盡早發(fā)現(xiàn)新出現(xiàn)的品質趨勢，以免為時已晚。

合規(guī)性

內置尺寸測量工具、BGA空洞分析、凸點直徑和圓度以及通孔填充，可快速查找并表征缺陷，幫助您達到IPC-A-610和IPC-7095合規(guī)標準。

0.95 μm解析度

0.95μm解析度決定了是否能在無源元件中發(fā)現(xiàn)微裂紋。Jade Plus的解析度足以在微型BGA球內進行精確的空洞分析。

完整證明

三維可視化可清晰地證明產(chǎn)品質量。選配的μCT組件可將元器件的二維X射線圖像轉換為完整的三維模型。

快速檢測速度

自動檢測程序

通過自動檢測程序節(jié)省批量電路板的檢測時間。程序僅需一次編程，然后放置電路板并單擊運行即可。幾秒鐘內生成報告,報告可以保存在本地或數(shù)據(jù)庫中。

2個傾斜角

借助的雙斜軸幾何結構，可以快捷方便地找到質量缺陷。可在高放大倍率下全面地查看每個細節(jié)，而無需旋轉樣品。您永遠不會錯過樣品的測試角度。

輕松導航

借助組件導航圖可輕松到達想要的位置。只需單擊一下，即可直接移動到電路板上的任何位置。使用實時部件ID查看器覆蓋進行移動時，了解您正在查看的內容。

DAGE XD7500VR JADE PLUS規(guī)格參數(shù)