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- 公司名稱 深圳市納科電子有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 深圳市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/12/9 16:02:04
- 訪問次數(shù) 9
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AnalyticalProbingStationPW-600基本特點(diǎn):在顯微鏡底下,利用探針搭接于IC內(nèi)部線路,使其可以外接各類設(shè)備,以便量測(cè)或輸入訊號(hào):探針分為硬針和軟針
Analytical Probing Station PW-600基本特點(diǎn):
在顯微鏡底下,利用探針搭接于IC內(nèi)部線路,使其可以外接各類設(shè)備,以便量測(cè)或輸入訊號(hào):
探針分為硬針和軟針。硬針以針尖1um及5um粗細(xì)為主要應(yīng)用規(guī)格:軟針針尖<1um,主要應(yīng)用在高頻電路及FIB probing PAD;當(dāng)EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等在無(wú)適當(dāng)治具或socket可用時(shí),可由點(diǎn)針方式提供訊號(hào)輸入輸出;Wafer可搭配Probe card做各項(xiàng)測(cè)試;
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