LEXT OLS4500納米檢測顯微鏡實現(xiàn)納米級觀測的新型顯微鏡有涵蓋了低倍觀察到高倍觀察的4種物鏡，并在電動物鏡轉(zhuǎn)換器上裝配了SPM單元?？梢詿o縫切換倍率和觀察方法，不會丟失觀察對象。

LEXT OLS4500LEXT OLS4500納米檢測顯微鏡為您帶來的解決方案 實現(xiàn)納米級觀測的新型顯微鏡。不會丟失鎖定的目標。

（電動物鏡轉(zhuǎn)換器切換倍率和觀察方法）

有涵蓋了低倍觀察到高倍觀察的4種物鏡，并在電動物鏡轉(zhuǎn)換器上裝配了SPM單元?？梢詿o縫切換倍率和觀察方法，不會丟失觀察對象。此外，該款顯微鏡可以進行納米級觀測。

LEXT OLS4500納米檢測顯微鏡涵蓋了低倍到高倍觀察，并配有多種觀察方法可以迅速發(fā)現(xiàn)觀察對象。
可以完成低倍到高倍的大范圍倍率觀察。不僅如此，*光學技術(shù)打造的光學顯微鏡帶來多種觀察方法，可以容易的發(fā)現(xiàn)觀察對象。此外，對于光學顯微鏡難以找到的觀察對象，還可以使用激光顯微鏡進行觀察。在激光微分干涉（DIC） 觀察中，可以進行納米級微小凹凸的實時觀察。

明視場觀察（IC元件）                        微分干涉（DIC）觀察                         激光微分干涉（DIC）觀察 縮短從放置樣品到獲取影像的工作時間。
放置好樣品后，所有的操作都在1臺裝置上完成。可以迅速，正確的把觀察對象移到SPM顯微鏡下面，所以只要掃描1次就能獲取所需的SPM影像。
一體機的機型，所以無需重新放置樣品只要在1臺裝置上切換倍率、觀察方法就能夠靈活應(yīng)對新樣品。

OLS4500是把光學顯微鏡、激光顯微鏡、探針顯微鏡融于一體的一體機，所以無需重新放置樣品，即可自由切換3種顯微鏡進行觀察和評價。這3種顯微鏡各自持有優(yōu)異的性能，所以能夠高效輸出*結(jié)果。

LEXT OLS4500納米檢測顯微鏡實現(xiàn)了無縫觀察和測量
【發(fā)現(xiàn)】可以迅速發(fā)現(xiàn)觀察對象
使用光學顯微鏡的多種觀察方法， 迅速找到觀察對象
OLS4500采用了白色LED光源， 可以觀察到顏色逼真的高分辨率彩色影像。它裝有4種物鏡， 涵蓋了低倍到高倍的大范圍觀察。OLS4500充分發(fā)揮了光學觀察的特長， 除了zui常使用的明視場觀察（BF）以外， 還可以使用對微小的凹凸添加明暗對比， 達到視覺立體效果的微分干涉觀察（DIC）， 以及用顏色表現(xiàn)樣品偏光性的簡易偏振光觀察。此外， OLS4500上還配有HDR功能（高動態(tài)范圍功能）， 該功能使用不同的曝光時間拍攝多張影像后進行合成， 來顯示亮度平衡更好、強調(diào)了紋理的影像。在OLS4500上您可以使用多種觀察方法迅速找到觀察對象。

BF 明視場 zui常使用的觀察方法。在觀察中真實再 現(xiàn)樣品的顏色。適用于觀察有明暗對比 的樣品。	DIC 微分干涉 對于在明視場觀察中看不到的樣品的微小高低差， 添加明暗對比使之變?yōu)榱Ⅲw可視。適用于觀察金 相組織、硬盤和晶圓拋光表面之類鏡面上的傷痕 或異物等。
簡易偏振光 照射偏振光（有著特定振動方向的光線）， 使樣品的偏光性變?yōu)槿庋劭梢?。適用于觀 察金相組織、礦物、半導體材料等。	HDR　高動態(tài)范圍 使用不同曝光時間拍攝多張影像并進行影像合成， 可以觀察平衡度較好的明亮部分和陰暗部分。此 外，還可以強調(diào)紋理（表面狀態(tài)），進行更精細的 觀察。

使用激光顯微鏡，可以觀察到光學顯微鏡中難以觀察到的樣品影像
OLS4500采用了短波長405 nm的激光光源和高N.A.的物鏡， 實現(xiàn)了優(yōu)異的平面分辨率。能以鮮明的影像呈現(xiàn)出光學顯微鏡中無法看到的觀察對象。在激光微分干涉（DIC）模式中還可以實時觀察納米級的微小凹凸。
  
明視場觀察（玻璃板上的異物）          激光微分干涉觀察 【接近】迅速發(fā)現(xiàn)觀察對象，在SPM上正確完成觀察
實現(xiàn)了無縫觀察，不會丟失觀察對象
OLS4500在電動物鏡轉(zhuǎn)換器上裝配了涵蓋低倍到高倍觀察的4種物鏡， 以及小型SPM單元。在光學顯微鏡或激光顯微鏡的50倍、100倍的實時觀察中， 由于SPM掃描范圍一直顯示于視場中心， 所以把觀察目標點對準該位置后， 只要切換到探針顯微鏡， 就能夠正確接近觀察對象。因此， 只需1次SPM掃描就能獲取目標影像， 從而能夠提高工作效率并降低微懸臂的損耗。

不會在SPM觀察中迷失的、可切換式向?qū)Чδ?/p>

使用探針顯微鏡開始觀察之前， 可以在向?qū)М嬅嫔显O(shè)置所需的條件， 如安裝微懸臂、掃描范圍等。所以經(jīng)驗較少的操作者也能安心完成操作。

【納米級測量】簡單操作，可以迅速獲得測量結(jié)果
新開發(fā)的小型SPM測頭， 減少了影像瑕疵

新開發(fā)的小型SPM測頭

OLS4500采用了裝在電動物鏡轉(zhuǎn)換器上的物鏡型SPM測頭。同軸、共焦配置了物鏡和微懸臂前端，所以切換SPM觀察時不會丟失觀察目標點。不僅如此，新開發(fā)的小型SPM測頭提高了剛性，所以與傳統(tǒng)產(chǎn)品相比，減少了影像瑕疵并提高了可追蹤性。

使用向?qū)Чδ埽杂煞糯骃PM影像
使用向?qū)Чδ埽?可以觀察時進一步放大探針顯微鏡拍到的影像的所需部分倍率。只要在影像上用鼠標指針設(shè)置放大范圍并掃描， 就可以獲取所需的SPM影像?？梢宰杂稍O(shè)置掃描范圍， 所以大幅度提高了觀察和測量的效率。

向?qū)Чδ茉?0μm×10μm影像上放大3.5μm×3.5μm范圍
優(yōu)異的分析功能， 應(yīng)對各種測量目的

曲率測量（硬盤的傷痕）

OLS4500能夠根據(jù)您的測量目的分析在各種測量模式中獲取的影像，并以CSV格式輸出測量結(jié)果。OLS4500有以下分析功能。 截面形狀分析（曲率測量、夾角測量） 粗糙度分析 形態(tài)分析（面積、表面積、體積、高度、柱狀值、承載比） 評價高度測量（線、面積） 粒子分析（選項功能）

跟從向?qū)М嬅娴闹甘荆?可輕松操作的6種SPM測量模式
接觸模式
控制微懸臂與樣品之間作用的排斥力為恒定的同時， 使微懸臂進行靜態(tài)掃描， 在影像中呈現(xiàn)樣品的高度。還可以進行彎曲測量。

金屬薄膜

動態(tài)模式
使微懸臂在共振頻率附近振動， 并控制Z方向的距離使振幅恒定， 從而在影像中呈現(xiàn)樣品高度。特別適用于高分子化合物之類表面柔軟的樣品及有粘性的樣品。

鋁合金表面

相位模式
在動態(tài)模式的掃描中， 檢測出微懸臂振動的相位延遲。可以在影像中呈現(xiàn)樣品表面的物性差。

高分子薄膜

電流模式
對樣品施加偏置電壓，檢測出微懸臂與樣品之間的電流并輸出影像。此外，還可以進行I/V測量。

Si電路板上的SiO2圖案樣品。高度影像（左）中 顯示為黃色的部分是SiO2。在電流影像（右）中 顯示為藍色（電流不經(jīng)過的部分）。通過上圖， 可以明確電路板中也存在電流不經(jīng)過的部分。

表面電位模式（KFM）
使用導電性微懸臂并施加交流電壓， 檢測出微懸臂與樣品表面之間作用的靜電， 從而在影像中呈現(xiàn)樣品表面的電位。也稱作KFM（Kelvin Force Microscope）。

磁帶樣品。在電位影像中可以看出數(shù)百mV的電位 差分布于磁帶表面。這些電位差的分布，可以認為 是磁帶表面的潤滑膜分布不均勻。

磁力模式（MFM）
在相位模式中使用磁化后的微懸臂進行掃描， 檢測出振動的微懸臂的相位延遲， 從而在影像中呈現(xiàn)樣品表面的磁力信息。也稱作MFM（Magnetic Force Microscope）。

硬盤表面樣品。可以觀察到磁力信息。

裝配了激光掃描顯微鏡，靈活應(yīng)對多種樣品 輕松檢測85°尖銳角
采用了有著高N.A. 的物鏡和光學系統(tǒng)（能zui大限度發(fā)揮405 nm 激光性能），LEXT OLS4500 可以精確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。

LEXT 物鏡

有尖銳角的樣品（剃刀）

高度分辨率10 nm，輕松測量微小輪廓
由于采用405 nm的短波長激光和更高數(shù)值孔徑的物鏡， OLS4500達到了0.12 μm的平面分辨率。因此， 可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結(jié)合高精度的光柵讀取能力和奧林巴斯*的亮度檢測技術(shù)， OLS4500可以分辨出亞微米到數(shù)百微米范圍內(nèi)的高度差。此外， 激光顯微鏡測量還保證了測量儀器的兩大指標——“正確性”（測量值與真正值的接近程度）和“重復性”（多次測量值的偏差程度）的性能。

0.12μm行間距

高度差標準類型B, PTB-5, Institut für Mikroelektronik, Germany, 6 nm高度測量中的檢測

從大范圍拼接影像中目標區(qū)域
高倍率影像容易使視場范圍變小，而通過設(shè)置，OLS4500的拼接功能zui多可以拼接625幅影像，從而能夠獲得高分辨率的大范圍視圖數(shù)據(jù)。不僅如此，還可以在該大范圍視圖上進行3D顯示或3D測量。

可用于傳統(tǒng)的線粗糙度測量，也可用于信息量較多的面粗糙度測量

近年來， 工業(yè)產(chǎn)品越來越趨于小型化和輕量化， 所以構(gòu)成產(chǎn)品的各種部件也越來越精細化。隨著這些部件的精細化， 除了形狀測量以外， 表面粗糙度測量的重要性也日益提高。 為了應(yīng)對這些市場需求， ISO規(guī)定的立體表面結(jié)構(gòu)測量儀器中， 添加了激光顯微鏡和AFM（ISO 25178-6）。因此， 與傳統(tǒng)的接觸式表面粗糙度測量相同， 非接觸式表面粗糙度測量也被認定為*評價標準。OLS4500中配置了符合ISO規(guī)定的粗糙度參數(shù)。

在面粗糙度測量中詳細掌握粗糙度的分布和特點
在非接觸式表面粗糙度測量中， 除了線粗糙度還可以測量面粗糙度。在面粗糙度測量中可以掌握樣品表面上區(qū)域內(nèi)粗糙度分布和特點， 并能夠與3D影像對照評價。OLS4500可以根據(jù)不同樣品和使用目的， 分別使用激光顯微鏡功能或探針顯微鏡功能測量表面粗糙度。

激光顯微鏡的面粗糙度測量（105μm×105μm）焊盤 探針顯微鏡的面粗糙度測量（10μm×10μm）
OLS4500的粗糙度參數(shù)
參數(shù)兼容性
OLS4500具有與接觸式表面粗糙度測量儀相同的表面輪廓參數(shù)，因此具有相互兼容的操作性和測量結(jié)果。

適應(yīng)下一代參數(shù)
OLS4500具有符合ISO25178的粗糙度（3D）參數(shù)。通過評估平面區(qū)域，可以進行高可靠性的分析。

OLS4500的顯微鏡技術(shù) 光學顯微鏡的原理和特長

明視場觀察可以獲取顏色信息。 紙張上的墨點

光學顯微鏡是從樣品上方照射可見光（波長約400 nm到800 nm）， 利用其反射光成像， 能夠放大樣品數(shù)十倍到一千倍左右進行觀察。光學顯微鏡的特長是可以真實觀察彩色樣品， 還可以切換觀察方法， 強調(diào)樣品表面的凹凸， 利用物質(zhì)的特性（偏光性）進行觀察。OLS4500上可以使用下述觀察方法。 明視場觀察        zui基本的觀察方法，通過樣品的反射光成像進行觀察 微分干涉觀察       給樣品表面的微小凹凸添加明暗對比，使之變?yōu)榭梢暤牧Ⅲw影像 簡易偏振光觀察       照射偏振光（有著特定振動方向的光線），把樣品的偏光性變?yōu)榭梢曈跋?/p>

激光顯微鏡的原理和特長
可進行亞微米級觀察和測量的激光顯微鏡（LSM:Laser Scanning Microscope)

高度測量（微透鏡）

激光顯微鏡采用短波長半導體激光和*的雙共焦光學系統(tǒng)， 會刪除未聚焦區(qū)域的信號， 只將聚焦范圍內(nèi)的反射光檢測為同一高度。同時結(jié)合高精度的光柵讀取能力， 可以生成高畫質(zhì)的影像， 實現(xiàn)精確的3D測量。

探針顯微鏡的原理和特長
可以觀察納米級微觀世界的探針顯微鏡(SPM:Scanning Probe Microscope)

通過微懸臂掃描進行納米觀察

SPM傳感器光路

OLS4500上采用了光杠桿法——通過高靈敏度檢測出zui前端裝有探針的微懸臂的微小彎曲量（位移）來進行觀測的方法。在懸臂的背面反射激光，并用壓電元件驅(qū)動Z軸，使激光照射到光電檢測器的位置，從而正確讀取Z方向的微小位移。

多種觀察模式在影像中呈現(xiàn)表面形狀和物性

決定高精細度、高質(zhì)量影像的微懸臂
探針位于長度約100μm～200μm的薄片狀微懸臂的前端。您可以根據(jù)樣品選擇不同的彈簧常數(shù)、共振頻率。反復掃描會磨損探針， 所以請根據(jù)需要定期更換微懸臂探針。