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200系列 涂鍍層測厚儀(膜厚計)
面議0簡介：LE-200J為電磁型/LH-200J為渦流型/LZ-200J為兩用型該系列包括LE-200J/LH-200J/LZ-200J三種型號
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333型 機械式漆膜測厚儀
面議0簡介：有相同長度的齒1和齒12的梳形測量儀器（圖2）穿透濕膜到基材。在齒2到齒11間，與基材的距離逐漸增長。齒6到齒11浸到涂層中而齒2到齒5不與涂料接觸。測量結果則為齒5和齒6的平均值。
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296型 機械式漆膜測厚儀
面議0簡介：濕涂層的上表面和基材的高度差異（D）通過儀器的手動調(diào)節(jié)插針(1)(有2個支腳(2))穿透涂層并停留在基材上來測量(圖4)。
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234型 機械式漆膜測厚儀
面議0簡介：碟形測量儀器（圖1）在濕膜表面滾動。在此過程中兩個滾花，對中輪緣（1）在基材上滾過，當輪緣到凸輪的距離等于被測濕膜厚度時偏心凸輪（2）則會粘上涂料。
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非接觸式金屬膜厚測量儀
面議0簡介：非接觸式金屬膜厚測量儀昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCusTFSeries，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量，對導電薄膜的膜厚精確測量，表征已被...
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激光干涉膜厚測量儀
面議0簡介：Xper-IP激光干涉膜厚測量儀Xper-IP是基于公司*的光譜干涉技術的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備
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在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE 70
面議0簡介：在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE70在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)
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半導體/薄膜無損檢測儀
面議0簡介：薄膜無損檢測系統(tǒng)，半導體無損檢測系統(tǒng)l產(chǎn)品特點系統(tǒng)使用獲得zuanli的光聲技術設計無損測量系統(tǒng)
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薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE 60（mapping測量）
面議0簡介：薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE60（精確定位測量）MProbe60是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設計
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原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU
面議0簡介：MPROBE50INSITU–實時薄膜厚度測量儀原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSITU用于測量薄膜厚度和n原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSITU優(yōu)勢：1
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