儀器特點(diǎn) ：

計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡(jiǎn)捷直觀。
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖--樣品逼近，保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。
深度陡度測(cè)量，三維顯示。
納米材料粗糙度測(cè)量、顆粒徑度測(cè)量及分布統(tǒng)計(jì)。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索樣品區(qū)域．
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無(wú)需任何計(jì)算機(jī)卡
樣品觀測(cè)范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
 
技術(shù)指標(biāo) ：

SPM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米
XY向分辨率：0.4nm(輕敲模式)；0.3nm（AFM模式）；0.1nm(STM模式)
Ｚ向分辨率：0.05nm(輕敲模式)；0.03nm（AFM模式）；001nm(STM模式)
XY二維樣品移動(dòng)范圍：５mm；精度0.5微米
步進(jìn)馬達(dá)自動(dòng)進(jìn)行針尖-樣品逼近
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(tái)（選購(gòu)）
 
電子學(xué)控制器 ：

XTZ控制 18-Bit D/A
數(shù)據(jù)采樣 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣
Z向反饋 DSP數(shù)字反饋
反饋采樣速率 64.0KHz
高壓放大器 集成高壓運(yùn)算放大器，zui大電壓范圍+/-150V
頻率范圍 20K-1000KHz
幅度范圍 0-10.0V
掃描速率 >40000點(diǎn)/秒
掃描角度 0-360度連續(xù)可調(diào)
掃描偏移 任意
圖像采樣點(diǎn) 256X256或512X512
步進(jìn)馬達(dá)控制 手動(dòng)和自動(dòng)進(jìn)退
計(jì)算機(jī)接口 標(biāo)準(zhǔn)RS232串行/USB