氬離子截面拋光儀-電鏡制樣設(shè)備
氬離子截面拋光儀 （Cross Section Polisher，簡稱CP），凝聚了日本電子科技人員多年的夢想與實踐，是掃描電鏡、電子探針、俄歇電鏡、EBSD分析等應(yīng)用領(lǐng)域變革性創(chuàng)新發(fā)明。自2004年日本電子發(fā)明該儀器以來，在*迅速普及。

氬離子截面拋光儀-電鏡制樣設(shè)備                                                                      

產(chǎn)品介紹                                                                                                                 

氬離子截面拋光儀 (Cross Section Polisher，簡稱CP)，凝聚了日本電子科技人員多年的夢想與實踐，是掃描電鏡、電子探針、俄歇電鏡、EBSD分析等應(yīng)用領(lǐng)域變革性創(chuàng)新發(fā)明。自2004年日本電子發(fā)明該儀器以來，在*迅速普及。用CP切割截面的方法甚至已經(jīng)成為一種加工方法-CP法被定義下來，在很多論文里度可以查到。                                 

氬離子截面拋光儀顧名思義是使用氬離子束轟擊樣品表面進行樣品加工，用其他方法難以制備的樣品，軟硬材質(zhì)混合的復(fù)合材料，都能夠制備出完美光滑的截面。除了表面極為平整外，被加工區(qū)域變形小、損傷小、無異物介入、結(jié)構(gòu)無破壞是其主要特點。                     

2017年1月JEOL推出新一代可監(jiān)控智能化加工產(chǎn)品，型號IB-19530CP，加工質(zhì)量和方便性大大提高。                                                                               

標簽：氬離子截面拋光儀-電鏡制樣設(shè)備