當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 行業(yè)專用儀器>其它行業(yè)專用儀器>其它>DSP Semiprobe雙面探針臺-雙面量測探針臺
返回產(chǎn)品中心>DSP Semiprobe雙面探針臺-雙面量測探針臺
參考價 | 面議 |
- 公司名稱 廣州市固潤光電科技有限公司
- 品牌
- 型號 DSP
- 所在地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2021/2/2 10:48:58
- 訪問次數(shù) 514
當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 行業(yè)專用儀器>其它行業(yè)專用儀器>其它>DSP Semiprobe雙面探針臺-雙面量測探針臺
返回產(chǎn)品中心>參考價 | 面議 |
雙面探針系統(tǒng)基于SemiProbe的探針系統(tǒng)(PS4L)自適應(yīng)結(jié)構(gòu)設(shè)計制造,提供了*的靈活性和強大功能。DSP解決方案可滿足探針從兩側(cè);探針從頂部,檢測輸出從底部;探針從底部,檢測輸出從頂部的雙側(cè)測試需求。與傳統(tǒng)的探針系統(tǒng)不同,該系統(tǒng)所有的基礎(chǔ)模塊——基座、卡盤支架、卡盤、顯微鏡支架、顯微鏡移動、光學(xué)元件、操縱器等都是可更換升級的。這使得DSP能為許多不同應(yīng)用提供完美的解決方案。*的模塊化設(shè)計使客戶能夠獲得精確滿足其要求的定制系統(tǒng)。更重要的是,隨著環(huán)境或測試條件的變化,PS4L可以很容易地進行現(xiàn)場升級,以滿足新的需求。
Semiprobe雙面探針臺-雙面量測探針臺產(chǎn)品描述:
Semiprobe雙面探針臺-雙面量測探針臺 基于SemiProbe的探針系統(tǒng)(PS4L)自適應(yīng)結(jié)構(gòu)設(shè)計制造,提供了*的靈活性和強大功能。目前,越來越多的應(yīng)用要求能夠從模具或晶片的兩面進行探測。SemiProbe的DSP解決方案可滿足以下需求:
Semiprobe雙面探針臺-雙面量測探針臺 與傳統(tǒng)的探針系統(tǒng)不同,該系統(tǒng)所有的基礎(chǔ)模塊——基座、卡盤支架、卡盤、顯微鏡支架、顯微鏡移動、光學(xué)元件、操縱器等都是可更換升級的。這使得DSP能為許多不同應(yīng)用提供完美的解決方案。*的模塊化設(shè)計使客戶能夠獲得精確滿足其要求的定制系統(tǒng)。更重要的是,隨著環(huán)境或測試條件的變化,PS4L探針系統(tǒng)可以很容易地進行現(xiàn)場升級,以滿足新的需求。與傳統(tǒng)檢測設(shè)備相比,能夠讓客戶節(jié)約更多時間,更多成本。
雙面探針系統(tǒng)(DSP)的發(fā)展:
雙面探針系統(tǒng)(DSP)初是用于兩個應(yīng)用:失效分析和離散設(shè)備。失效分析(FA)的應(yīng)用涉及到發(fā)射顯微鏡,它需要接觸晶圓的頂部或活動面,同時使用增強型或紅外相機從另一側(cè)成像。晶圓片安裝時通常背面朝上朝向發(fā)射相機,而上部朝下。這簡化了查找故障位置和確定故障根本原因的過程。包括SemiProbe在內(nèi)的一些公司都有這種應(yīng)用的解決方案。根據(jù)發(fā)射顯微鏡的類型和制造商,探測的一面可以是頂面或底面。
第二種類型的DSP系統(tǒng)用于探測分立大功率器件,包括晶閘管、二極管、整流器、電壓抑制器、功率晶體管和/或IGBT。由于測試這些設(shè)備所用的功率,通過偏置卡盤進行普通背面接觸是無法獲得準(zhǔn)確的結(jié)果的。通過單獨接觸DUT(被測設(shè)備)的背面,可獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。此外,由于這些測試中所使用的功率,通常需要多個探頭。
隨著半導(dǎo)體行業(yè)不斷努力在降低成本的同時提高設(shè)備的性能,新技術(shù)正在成為產(chǎn)品設(shè)計和生產(chǎn)的主流,這些新技術(shù)需要DSP解決方案——MEMS、光電子、硅通孔等等。另一個新興的DSP應(yīng)用涉及在晶圓上方或下方安裝太陽模擬器頭,以刺激另一面偏壓的裝置。在設(shè)計工作和表征方面,SemiProbe已開創(chuàng)了一些創(chuàng)新的DSP解決方案來探測這些設(shè)備。
應(yīng)用范圍:
Semiprobe雙面探針臺-雙面量測探針臺技術(shù)參數(shù):
可選配件:
包括隔振臺、暗箱、探針卡、操縱器、探測臂和基座、探針,光學(xué)部件,CCTV 系統(tǒng)、其他晶圓片載體等
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個人信息: