AFM5100N除了激光檢測方式之外，全新的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。圖標說明
AFM5100N除了激光檢測方式之外，全新的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。
通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。
激光檢測方式的探針需要調節(jié)激光光斑的位置，操作復雜，而采用自檢測方式的「自檢測懸臂」無需調節(jié)激光光斑。
懸臂的機械結構，能夠以俯視方式直接觀察懸臂的位置，從而輕松調整樣品的測量的位置。除此之外，更加尖銳的探針提高了分辨率。
通過流程圖形式的導航系統(tǒng)，任何人都可以輕松地進行高分辨表面測量。另外，通過設定樣品的軟硬度和凹凸系數(shù)等參數(shù)，能夠簡單確定測量條件。
主機上包含減震臺、隔音罩、光學顯微鏡等附件，安裝緊湊，體積小巧。
通過激光檢測方式，能夠擴展各種各樣的選配功能。另外，只要插拔一根電纜就能夠切換成激光檢測方式。
| 檢測方式 | 激光檢測方式/自檢測方式 |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 35 mmφ、厚度10 mm（專用配件厚度擴展至20 mm） |
| 掃描范圍 |
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| 定位顯微鏡 |
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| 減震方式 |
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| 操作畫面 | 搭載流程圖的操作導航系統(tǒng) |
| 檢測功能 |
|
| 擴展功能 | AFM、STM、SIS、FFM、LM-FFM、VE-AFM/DFM、Adhision、CURRENT、KFM、PRM、SNDM、SSRM、EFM、MFM |
介紹掃描探針顯微鏡的應用數(shù)據(jù)。
解說掃描式隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM)等的原理和各種狀態(tài)原理。
描述我們的掃描探針顯微鏡和我們的設備的歷史和發(fā)展。(Global site)
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