當(dāng)前位置：儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 光學(xué)儀器及設(shè)備>電子顯微鏡>掃描電鏡（SEM）> 日本電子掃描電鏡JSM-IT100
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產(chǎn)品參數(shù)產(chǎn)品編號:日本電子掃描電鏡JSM-IT100所屬品牌:JEOL產(chǎn)品型號:JSM-IT100額定功率：按實際方案提供所屬類別:掃描電鏡所屬用途:金相組織觀察應(yīng)用領(lǐng)域:產(chǎn)品特性:掃描電鏡JSM-IT100
JSM-IT100 的圖形用戶界面使掃描電鏡的操作更加直觀，簡潔精煉的界面設(shè)置，能助電鏡新手一臂之力。
觀察畫面大,操作舒 適，容易捕捉觀察視野中的細節(jié)信息。支持觸控屏功能，操作直觀。
獲取數(shù)據(jù)僅需三步：1 交換樣品 2 自動調(diào)整 3 拍攝
自動設(shè)置條件
標(biāo)準(zhǔn)菜單功能（Standard Recipe）凝聚了JEOL 的經(jīng)驗和技術(shù)，包括了各個領(lǐng)域的觀察條件。利用標(biāo)準(zhǔn)
菜單（Standard Recipe）設(shè)定條件，JSM-IT100 可支持任何樣品的觀察和分析。
數(shù)據(jù)管理&生成報告
能確認(rèn)和再現(xiàn)成像時的條件并返回獲取圖像的位置進行重復(fù)測試。用 Report 按鈕能將獲取的圖像用專
用的圖像編輯軟件立即生成報告書，能迅速地將必要的信息傳遞給對方，高 效利用時間，獲取的數(shù)據(jù)可
以從相冊的圖像中直觀地確認(rèn)。
小型高性能 SEM
JSM-IT100 的占地空間近乎臺式電鏡，分辨率可與機型媲美，能支持范圍廣泛的分析。
?利用二次電子像觀察結(jié)構(gòu)
?低加速電壓下依然性能超群
?高靈敏度背散射電子檢測 器 （LV/LA標(biāo)配）
標(biāo)配豐富的功能
?無縫自動偏壓
?消像散記憶
?可變焦聚光鏡
?全對中樣品臺
?測長
?多圖像顯示
?用戶日志
JSM-IT100 提供的直觀操作，同樣也適用于 EDS 分析，利用 EDS 導(dǎo)航器能順利地進行定量分析、
定性分析和元素面分布，只需很少的步驟就可執(zhí)行豐富的分析功能，新手也能輕松駕馭。標(biāo)配的
active map 程序，能使數(shù)據(jù)采集后的分析輕松自如。獲得軟件許可后，在其它的電腦上也可以
進行分析，該功能也能滿足專 業(yè)用戶的需求。
? 測試組成元素
? 測試特定點的組成元素
? 測試線上的元素分布
? 觀察組成元素的分布
? 支持各種測試：（1）電子束追蹤（2）實時過濾（3）Qbase
安裝該樣品臺，可以利用點擊置中等自動樣品臺控制功能，與樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)相結(jié)合，尋找視場將會更加迅速，安 全鎖會扣緊各種尺寸的樣品，讓你盡可放
心使用。
樣品載入 SEM 樣品室后，樣品室觀察系統(tǒng)能對樣品的狀態(tài)進行監(jiān)控，也能順利地觀察表面起伏很大的樣品.
利用低真空模式（LV 模式）能提高樣品室內(nèi)壓力、中和樣品表面電荷，直接觀察未鍍膜不導(dǎo)電樣品。適合觀察和分析的樣品包括 ：貴重的文化財產(chǎn)、已經(jīng)預(yù)定用其它分析儀器測試的樣品及無法噴涂導(dǎo)電層的樣品等。
利用加速電壓 30kV 選配項，分析范圍將會更寬。
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