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聚焦離子束掃描電子顯微鏡

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具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 常州喬泰數(shù)控科技有限公司
品牌
型號
所在地 常州市
廠商性質其他
更新時間 2024/5/28 15:37:11
訪問次數(shù) 102

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束（FIB）優(yōu)異的加工性能

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蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束（FIB）優(yōu)異的加工性能。無論

是在科研或是工業(yè)實驗室，您都可以在一臺設備上實現(xiàn)多用戶同時操作。得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺設計理念，您可以根據(jù)自己需求的

變化隨時升級儀器系統(tǒng)。在加工、成像或是實現(xiàn)三維重構分析時，Crosssbeam系列都將大大提升您的應用體驗。

使用Gemini電子光學系統(tǒng)，您可以從高分辨率SEM圖像中提取真實樣本信息

使用新的lon-sculptor FIB鏡筒以及全新的樣品處理方式，您可以大限度地提高樣品質量、降低樣品損傷，同時大大加快實驗操作過程

使用lon-sculptor FIB的低電壓功能，您可以制備超薄的TEM樣品，同時將非晶化損傷降到非常低

使用Crossbeam 340的可變氣壓功能

或使用Crossbeam 550實現(xiàn)更苛刻的表征，大倉室甚至為您提供更多選擇

EM樣品制備流程

按照以下步驟，高效率、高質量地完成制樣

Crossbeam 為制備超薄、高質量的TEM樣品提供了一整套解決方案，您可以高效地準備樣品，并在TEM或STEM上實現(xiàn)透射成像模式的分析。

1．自動定位-感興趣的區(qū)域（ROI）輕松導航

您可以不費功夫地找到感興趣的區(qū)域（ROI）

使用樣品交換室的導航相機對樣品進行定位

集成的用戶界面使得您可以輕松定位到ROI

在SEM上獲得寬視野、無畸變的圖像

2．自動制樣-從體材料開始制備薄片樣品

您可以通過簡單的三個步驟制備樣品：ASP（自動樣品制備）

定義參數(shù)包括漂移修正，表面沉積以及粗切、精細切割

FIB鏡筒的離子光學系統(tǒng)保證了工作流程具有的通量

將參數(shù)導出為副本，進而可以重復操作實現(xiàn)批量制備

3．輕松轉移-樣品切割、轉移機械化

導入機械手，將薄片樣品焊接在機械手的針尖上

將薄片樣品與樣品基體連接部分進行切割，使其分離

薄片隨后會被提取并轉移到TEM柵網(wǎng)上

4．樣品減薄-獲取高質量TEM樣品至關重要的一步

儀器在設計上允許用戶實時監(jiān)控樣品厚度，并最終達到所需求的目標厚度

您可以同時通過收集兩個探測器的信號判斷薄片厚度，一方面可以通過SE探測器以高重復性獲取最終厚度，另一方面可以通過Inlens SE探測器控

制表面質量

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