M215190掃描電子顯微鏡采用不同的信息檢測(cè)器，使選擇檢測(cè)得以實(shí)現(xiàn)。如對(duì)二次電子、背散射電子的采集，可得到有關(guān)物質(zhì)微觀(guān)形貌的信息；對(duì)x射線(xiàn)的采集，可得到物質(zhì)化學(xué)成分的信息。正因如此，根據(jù)不同需求，可制造出功能配置不同的掃描電子顯微鏡。

M215190掃描電子顯微鏡技術(shù)參數(shù) 
1.高真空模式：3.0nm 低真空模式：4.0nm 
2.低真空度1 to 270Pa，高、低真空切換 
3.樣品臺(tái)X:80mm Y:40mm T:-10 to +90degree R:360degree 
4.加速電壓0.5kV to 30Kv束流1pA—1uA 
5.真空系統(tǒng)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)臺(tái)能譜分析接口

M215190掃描電子顯微鏡主要特點(diǎn)
1.既保證高電壓下的高分辨率，也可提供低電壓下高質(zhì)量的圖像。 
2.全自動(dòng)電子槍 
3.高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭 
4.超級(jí)圓錐形物鏡，高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng) 
5.大樣品室，全對(duì)中的樣品臺(tái)，大視野觀(guān)察范圍可觀(guān)測(cè)到2厘米見(jiàn)方的樣品