基體模式鐵基探頭形式一體分辨率0.1μm測(cè)量范圍1250μm測(cè)量模式基礎(chǔ)模式顯示屏IPS全彩屏,1.14inch尺寸107×50×20mm顯示單位μm/mil經(jīng)濟(jì)型涂層測(cè)厚儀YT5110產(chǎn)品介紹:經(jīng)濟(jì)型一體鐵基涂層測(cè)厚儀YT5110是3nh公司制造的擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀
基體模式鐵基 探頭形式一體 分辨率0.1μm 測(cè)量范圍1250μm 測(cè)量模式基礎(chǔ)模式 顯示屏IPS全彩屏, 1.14inch 尺寸107×50×20mm 顯示單位μm/mil
經(jīng)濟(jì)型涂層測(cè)厚儀YT5110產(chǎn)品介紹:
經(jīng)濟(jì)型一體鐵基涂層測(cè)厚儀YT5110是3nh公司制造的擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀，能依據(jù)磁性法快速、精準(zhǔn)的無(wú)損檢測(cè)各種涂覆在鐵磁性金屬基底上的各種非磁性涂層厚度。
鐵基涂層測(cè)厚儀YT5110測(cè)量使用簡(jiǎn)單，多定位片結(jié)構(gòu)，適應(yīng)性更強(qiáng)，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等表面工程檢測(cè)領(lǐng)域，是涂層表面處理的基本裝備。
經(jīng)濟(jì)型涂層測(cè)厚儀YT5110的Fe基探頭可檢測(cè)噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度，例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。
產(chǎn)品特點(diǎn)
1、支持零點(diǎn)校正
2、多種定位方式
標(biāo)配多定位片，在大弧面定位、小弧面定位、平面定位更具有優(yōu)勢(shì)，測(cè)量更精準(zhǔn)。
3、IPS純彩屏，操作流暢，存儲(chǔ)容量大
4、精確測(cè)量曲面平面
凸面半徑5mm；凹面半徑10mm
5、高靈敏探頭
自主研發(fā)高靈敏探頭反應(yīng)速度快，測(cè)試更加精準(zhǔn)
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào) | YT5110 |
產(chǎn)品名稱(chēng) | 入門(mén)級(jí)一體鐵基涂層測(cè)厚儀 |
特性 |
YT系列涂層測(cè)厚儀是3nh公司制造的擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀，能依據(jù)磁性法快速、精準(zhǔn)的無(wú)損檢測(cè)各種涂覆在鐵磁性金屬基底上的各種非磁性涂層厚度。
儀器測(cè)量使用簡(jiǎn)單，多定位片結(jié)構(gòu)，適應(yīng)性更強(qiáng)。Fe基探頭可檢測(cè)噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度，例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。
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符合標(biāo)準(zhǔn) | ASTM B499,ASTM D1400，ASTM D709;
ISO 2178,ISO 2360，ISO 2808;
GB/T 4956,JB/T 8393 |
基體模式 | 鐵基 |
探頭形式 | 一體式 |
定位結(jié)構(gòu) | 多定位片 |
分辨率 | 1μm |
測(cè)量范圍 | 0~1250μm |
測(cè)量精度 | 零點(diǎn)校正:±(3%H+1)μm；
注:H為樣品厚度 |
顯示屏 | IPS全彩屏, 1.14inch |
接口 | Type C USB;按鍵 |
存儲(chǔ)數(shù)據(jù) | 100條 |
電池電量 | 鋰電池，充滿(mǎn)電單次可連續(xù)測(cè)試10000 |
測(cè)量模式 | 基礎(chǔ)模式 |
*小測(cè)量尺寸 | 10×10mm |
*小測(cè)量厚度 | 磁性：0.2mm |
*小曲率 | 凸面半徑5mm；凹面半徑10mm |
顯示單位 | μm/mil |
尺寸 | 107×50×20mm |
重量 | 65g |
工作溫度 | 0~40oC(10~90%RH無(wú)凝露) |
儲(chǔ)存溫度 | -10~50oC |
軟件支持 | / |
標(biāo)準(zhǔn)附件 | 基體1塊(鐵基體),腕帶，擦拭布,USB數(shù)據(jù)線，定位片 |
可選附件 | 打印機(jī)，5V-2A電源適配器，，校準(zhǔn)片 |
注： | 校準(zhǔn)片一套5片(厚度略有差異)，技術(shù)參數(shù)僅為參考，以實(shí)際銷(xiāo)售產(chǎn)品為準(zhǔn) |
測(cè)量主要事項(xiàng)：
a 基體金屬特性
對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
c 邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d 曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
e 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f 表面清潔度
測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
