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EPK涂層測(cè)厚儀MINITEST735

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公司名稱 北京時(shí)代恒宇科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地 北京市
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2024/12/25 19:28:37
訪問(wèn)次數(shù) 7

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開(kāi)模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開(kāi)模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

EPK涂層測(cè)厚儀MINITEST735 產(chǎn)品概述:創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的精確性●測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用●FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò) 產(chǎn)品特點(diǎn): ●SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確 ●FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤 ●溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤 ●菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選 ●讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出

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產(chǎn)品特點(diǎn):

-SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加精確
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件

技術(shù)參數(shù)

型號(hào) 特性	MINITEST 735
探頭類(lèi)型	外置
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量	最多10,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值	讀值個(gè)數(shù)，最小值，值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）
校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范	ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式	出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控	聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限
測(cè)量單位	um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃-60℃
存放溫度	-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn)	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約210g

技術(shù)數(shù)據(jù)表 SIDSP探頭

探頭特性	F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5	F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
探頭特性	F	N	F	F	N	F
測(cè)量范圍	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范圍	小工件，薄涂層跟測(cè)量支架一起使用		粗糙表面	標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛		厚涂層 <
測(cè)量原理	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)
信號(hào)處理	探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）
精確度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復(fù)性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
最小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
最小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
最小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）	30mm		30mm			30mm
最小測(cè)量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
最小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測(cè)量速度	每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下測(cè)量速度	每分鐘70個(gè)讀數(shù)

標(biāo)準(zhǔn)配置：

帶塑料手提箱，內(nèi)含
--或MINITEST 735（外置探頭）
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-操作使用說(shuō)明CD，德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)
-2節(jié)AA電池
推薦附件： -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架