零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。
無需校準(zhǔn)：多數(shù)涂層測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。尼克斯涂層測(cè)厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準(zhǔn)確
溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的和提高。
標(biāo)準(zhǔn)：符合ISO 2178,2360,2808及ASTM B 499,D7091標(biāo)準(zhǔn)
QNix®4200可測(cè)量磁性金屬表面非磁性涂鍍層厚度（Fe）。
（其中QNix®4200P、QNix®4200P5、采用有線分體型設(shè)計(jì)，測(cè)量方便、穩(wěn)定、準(zhǔn)確，探頭連接線堅(jiān)固耐用，還可滿足一些狹小空間的測(cè)量。探頭線和探頭可更換）
三、技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍
Fe：0-3000或0-5000μm
顯示范圍
0-99.9μm：0.1μm
100-999μm：1μm
≥1mm：0.01mm
精度
±（2+3%）μm≤2000μm
±（2+5%）μm＞2000μm
小測(cè)量面積
Fe：10×10mm²，NFe：6×6mm²
小曲率半徑
凸半徑：5mm，凹半徑：25mm
基體
Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
測(cè)量溫度范圍
-10℃-60℃
溫度補(bǔ)償范圍
0℃-50℃
分體型連接線長度
1m
電源
2×1.5V AA堿性電池
尺寸
100×60×27mm
重量（含電池）
一體型：105g，分體型：14
